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X-3000是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)進(jìn)展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器為探測(cè)單元，再加上我公司專門(mén)開(kāi)發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺(tái)儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。
技術(shù)參數(shù)：
激發(fā)源：本機(jī)采用低功率 X 射線管（Mo靶），最高電壓可達(dá)50KV，最大電流1mA
高壓電源：最大50W，50KV，1mA
探測(cè)器：電制冷 Si PIN半導(dǎo)體探測(cè)器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于170KeV）
多道分析器：2048道
軟件：基于WINDOWS的強(qiáng)大工作軟件。定量分析包括：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。 定性分析包括： KL線標(biāo)記， 譜圖比較和光標(biāo)尋峰等。客戶可進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法。
電源：交流220V 50Hz
體積：520mm×600mm×270mm
重量：約 42kg (主機(jī))
主要特點(diǎn)：
X-3000型測(cè)金儀優(yōu)勢(shì)的方面為采用了目前世界上較為先進(jìn)的半基本參數(shù)法。該方法是一種理論方法。由測(cè)量多種主元素分析線的凈強(qiáng)度（這些主成分之和應(yīng)接近100%）并使用X射線熒光強(qiáng)度的理論公式來(lái)校正元素間的相互影響（吸收增強(qiáng)效應(yīng)）�；緟�(shù)法可以在一定的準(zhǔn)確度下提供可靠的分析結(jié)果。它既不需要校準(zhǔn)曲線，也不需要從經(jīng)驗(yàn)中提取校正系數(shù)。它只需要少量可靠的標(biāo)準(zhǔn)樣品在確定的儀器條件下計(jì)算每個(gè)分析元素的純?cè)貜?qiáng)度即可。采用X射線熒光方法,適應(yīng)范圍廣泛，工作曲線，方法可自由選取，修定。對(duì)各種科研，分析單位的適應(yīng)能力強(qiáng)。
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